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如何檢測葉蠟石

   研究方法有多種，如用X射線衍射方法、紅外、吸收光譜、熱分析(差熱與失重分析)，巖相分析等。以下著重介紹較簡便的兩種檢測方法：

(1)偏光顯微鏡觀察。葉蠟石為單斜晶系，主要光學常數Ng=I.596～1.601，Nm=1.586～1.589，Np=1.543—1.566，Ng一Np=0.146～0.062，單偏光下，葉蠟石為無色透明，中正突起，(001)解理完全；正交鏡下最高干涉色三至四級．平行解理切面方向為一級，正延性，平行消光或小角度斜消光；二軸負光性，光軸角2V=53°～62°。

(2)差熱分析。葉蠟石在加熱過程中，僅在600～700℃有一個平穩的吸熱反應谷，也有的在700～800℃發生吸熱反應，到1000℃還沒有出現放熱反應峰。