如何檢測葉蠟石
研究方法有多種,如用X射線衍射方法、紅外、吸收光譜、熱分析(差熱與失重分析),巖相分析等。以下著重介紹較簡便的兩種檢測方法:
(1)偏光顯微鏡觀察。葉蠟石為單斜晶系,主要光學常數Ng=I.596~1.601,Nm=1.586~1.589,Np=1.543—1.566,Ng一Np=0.146~0.062,單偏光下,葉蠟石為無色透明,中正突起,(001)解理完全;正交鏡下最高干涉色三至四級.平行解理切面方向為一級,正延性,平行消光或小角度斜消光;二軸負光性,光軸角2V=53°~62°。
(2)差熱分析。葉蠟石在加熱過程中,僅在600~700℃有一個平穩的吸熱反應谷,也有的在700~800℃發生吸熱反應,到1000℃還沒有出現放熱反應峰。